額葉癲癇病是一種發(fā)作部位起于人體腦部額葉位置的癲癇病。這些癲癇病發(fā)作一般癥狀表現(xiàn)差異很大。是一種發(fā)病率極高，發(fā)作頻繁的癲癇病類型。這并不是說(shuō)額葉癲癇就沒(méi)有遺傳性，與其它癲癇類型一樣，在診斷額葉癲癇時(shí)，要了解雙親，近親家屬中是否有癲癇發(fā)作，詳細(xì)對(duì)患者的家庭系統(tǒng)進(jìn)行詳細(xì)的調(diào)查。

額葉癲癇發(fā)生的病因

1、頭創(chuàng)傷是最常見(jiàn)的額葉癲癇的原因，頭部外傷時(shí)常導(dǎo)致額葉皮質(zhì)挫傷，晚發(fā)性癲癇發(fā)生風(fēng)險(xiǎn)與創(chuàng)傷嚴(yán)重程度有關(guān)。首次發(fā)作一般在數(shù)月內(nèi)，也可在多年以后，病理檢查常見(jiàn)腦瘢痕組織。

2、皮質(zhì)發(fā)育不良最多見(jiàn)，其它發(fā)育損傷有節(jié)結(jié)性異位和錯(cuò)構(gòu)瘤等；

3、膠質(zhì)增生見(jiàn)于許多額葉癲癇手術(shù)后病理標(biāo)本中，可繼發(fā)于頭外傷、圍生期缺氧、繼往手術(shù)以及其他不明性原因；

4、頭創(chuàng)傷是最常見(jiàn)的額葉癲癇的原因，頭部外傷時(shí)常導(dǎo)致額葉皮質(zhì)挫傷，晚發(fā)性癲癇發(fā)生風(fēng)險(xiǎn)與創(chuàng)傷嚴(yán)重程度有關(guān)。首次發(fā)作一般在數(shù)月內(nèi)，也可在多年以后，病理檢查常見(jiàn)腦瘢痕組織。

額葉癲癇的常規(guī)檢查

一、影像學(xué)檢查

應(yīng)用結(jié)構(gòu)性和功能性影像方法定位，CT、MRI可發(fā)現(xiàn)一些小的低級(jí)別的膠質(zhì)瘤、AVM、海綿狀血管瘤以及大腦皮質(zhì)發(fā)育不全，還可發(fā)現(xiàn)腦膜腦瘢痕、腦萎縮、腦囊性改變等，有利于致癇灶定位。

二、腦電圖檢查

由于額葉癲癇發(fā)作常很快引起雙側(cè)額葉同步性發(fā)放，頭皮腦電圖很難于定位，并且常由于偽跡難于解釋腦電圖的變化。額葉癲癇的致癇灶常常呈多灶或雙側(cè)額葉灶，也影響了額葉致癇灶的準(zhǔn)確定位。此時(shí)應(yīng)行視頻腦電圖，觀察發(fā)作期的腦電圖變化及發(fā)作的行為改變，以助定位。它是對(duì)頑固性癲癇病人進(jìn)行術(shù)前評(píng)估的主要手段之一。還應(yīng)常規(guī)行特殊頭皮記錄電極（如眶頂電極）記錄、長(zhǎng)程腦電圖、誘發(fā)試驗(yàn)等檢查。還應(yīng)該選擇性地采用顱內(nèi)電極記錄發(fā)作期的腦電圖，其可靠性較大、準(zhǔn)確率高。但起源額葉區(qū)的癲癇的腦電圖十分多樣和復(fù)雜，發(fā)作間期腦電圖是現(xiàn)代神經(jīng)影像和長(zhǎng)程視頻腦電圖之外十分重要的輔助手段，與顳葉癲癇相比較，發(fā)作間期癲癇樣放電對(duì)于額葉癲癇的診斷價(jià)值相對(duì)有限。約70%的額葉癲癇患者有發(fā)作間期癲癇樣放電，但其難以定位，呈多灶性或泛化。并且常規(guī)的腦電圖只能記錄額葉皮質(zhì)的一部分，無(wú)法正確地記錄額葉深部的電位，和眶回、扣帶回和中線半球間皮質(zhì)的放電。額葉與顳葉之間存在著一些主要的功能通路，包括鉤束和扣帶回。這些功能性網(wǎng)絡(luò)的存在使得癲癇可以在額葉內(nèi)外播散且阻礙腦電圖的準(zhǔn)確定位。但在額葉癲癇的術(shù)前評(píng)估中，腦電圖仍不失為一種重要的手段。