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輕癱試驗(yàn)是用于檢測(cè)神經(jīng)系統(tǒng)是否存在輕度癱瘓的方法，包括巴賓斯基征、錐體束征、上肢輕癱試驗(yàn)、下肢輕癱試驗(yàn)、閉目難立征等。若身體感到不適，務(wù)必立刻就診，遵循醫(yī)生的建議進(jìn)行治療，切勿自行開處方。 1. 巴賓斯基征：用鈍物沿足底外側(cè)緣，由后向前至小趾近根部并轉(zhuǎn)向內(nèi)側(cè)，陽性反應(yīng)為拇趾背屈，其余趾呈扇形展開。 2. 錐體束征：包括Babinski 征、Oppenheim 征、Gordon 征等，操作方法類似，用于判斷錐體束是否受損。 3. 上肢輕癱試驗(yàn)：包括上肢平舉試驗(yàn)、手指分指試驗(yàn)等。上肢平舉試驗(yàn)時(shí)，輕癱側(cè)上肢會(huì)逐漸下落。 4. 下肢輕癱試驗(yàn)：如膝腱反射亢進(jìn)試驗(yàn)、跟腱反射亢進(jìn)試驗(yàn)等。 5. 閉目難立征：雙足并攏站立，閉目，觀察身體是否搖晃。 輕癱試驗(yàn)對(duì)于早期發(fā)現(xiàn)神經(jīng)系統(tǒng)疾病具有重要意義，但這些試驗(yàn)需要專業(yè)醫(yī)生進(jìn)行操作和判斷。如果出現(xiàn)可疑陽性結(jié)果，還需結(jié)合其他檢查如神經(jīng)電生理檢查、影像學(xué)檢查等進(jìn)一步明確診斷。